How to perform the SOC test with reduction the development cycle time and production cost without scarifying the performance is the challenge confronted by design engineer and test engineer.
如何在缩短设计周期、降低芯片成本而又不损失芯片性能的前提下
成SOC系统芯片的测试是芯片设计工程师和测试工程师当前所要面对的挑战。
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起始How to perform the SOC test with reduction the development cycle time and production cost without scarifying the performance is the challenge confronted by design engineer and test engineer.
如何在缩短设计周期、降低芯片成本而又不损失芯片性能的前提下成SOC系统芯片的测试是芯片设计工程师和测试工程师当前所要面对的挑战。
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How to perform the SOC test with reduction the development cycle time and production cost without scarifying the performance is the challenge confronted by design engineer and test engineer.
如何在缩短设计周期、降低
本而又不损失性能的前提下SOC系统的测试是设计工
测试工当前所要面对的挑战。
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如何在缩短设计周
、
芯片成本而又不损失芯片性能的前提下成SOC系统芯片的
是芯片设计
程师和程师当前所要面对的挑战。
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How to perform the SOC test with reduction the development cycle time and production cost without scarifying the performance is the challenge confronted by design engineer and test engineer.
如何在缩
周期、降低芯片成本而又不损失芯片性能的
提下成SOC系统芯片的测试是芯片工程和测试工程
所要面对的挑战。
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会党人，会党党员How to perform the SOC test with reduction the development cycle time and production cost without scarifying the performance is the challenge confronted by design engineer and test engineer.
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如何在缩短设计周期、降低芯片成本而又不损失芯片性能的前提下成SOC系统芯片的测试是芯片设计工程师和测试工程师当前所要面对的挑战。
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成SOC系统芯片的测试是芯片设计工程师和测试工程师当前所要面对的挑战。
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