How to perform the SOC test with reduction the development cycle time and production cost without scarifying the performance is the challenge confronted by design engineer and test engineer.
如何在缩短设计周期、降低
片成本而又不
片性能的前提下
成SOC系统片的测
片设计工程师和测工程师当前所要面对的挑战。
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How to perform the SOC test with reduction the development cycle time and production cost without scarifying the performance is the challenge confronted by design engineer and test engineer.
如何在缩短设计周期、降低芯片成本而又不损失芯片性能的前提下成SOC系统芯片的测试是芯片设计工程师和测试工程师当前所要面对的挑
。
：以上
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如何在缩短设计周期、降低芯片
本而又不损失芯片性能的前
SOC
统芯片的测试是芯片设计工程师和测试工程师当前所要面对的挑战。
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如
短设计周期、降低芯片成本而又不损失芯片性能的前提下成SOC系统芯片的测试是芯片设计工程师和测试工程师当前所
对的挑战。
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冲起始How to perform the SOC test with reduction the development cycle time and production cost without scarifying the performance is the challenge confronted by design engineer and test engineer.
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如何在缩短
计周期、降低
成本而
失性能的前提下成SOC系统的测试是计工程师和测试工程师当前所要面对的挑战。
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如何在缩短设计周期、降
成本而又不损失性能的前提下成SOC系统的
试是设计工程
试工程当前所要面对的挑战。
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如何在缩短设计周
、
芯片成本而又不损失芯片性能的前提下成SOC系统芯片的是芯片设计
程师和程师当前所要面对的挑战。
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